Інфопакет

Методи контроля та керування властивостями матеріалів наноелектроніки

ОК12

Обов’язкова дисципліна для ОП

Другий

2023/2024

2 Семестр

6

- Знати і розуміти сучасні методи наукових досліджень, організації та планування експерименту, комп’ютеризованих методів дослідження та опрацювання результатів вимірювань - Знати і розуміти основні поняття теорії вимірювань, застосовувати на практиці та при комп’ютерному моделюванні об’єктів та явищ - Вміти формулювати та вирішувати завдання у галузі метрології, що пов’язані з процедурами спостереження об’єктів, вимірювання, контролю, діагностування і прогнозування з урахуванням важливості соціальних обмежень - Вміти здійснювати планування та проводити експериментальне дослідження структурних, оптичних та електрофізичних властивостей органічних і неорганічних середовищ - Проводити проектування та конструювання оптичних та оптико-електронних приладів та систем, приладів для спектральних досліджень.

Очна форма

1. Знати основи фізики напівпровідників, квантової механіки, принципи теорії твердого тіла. 2. Вміти - вимірювати спектри фотолюмінесценції та оптичного поглинання світла в напівпровідниках, електрофізичні параметри пристроїв електроніки, аналізувати роботу електронних схем. 3. Володіти елементарними навичками вибору компонент електронних схем прецизійних пристроїв і приладів оптотехніки.

“Основи наноелектроніки” включає вивчення розділів: вступ до нанотехнологій; енергетичний спектр носіїв електронів в низькорозмірних системах; енергетичний спектр наноструктур в зовнішніх полях; транспортні явища в низькорозмірних структурах, фізичні основи роботи електронних та оптоелектронних пристроїв з наноструктурами, методи діагностики та аналізу наносистем.

Основна: 1. Л.В. Поперенко, В.А. Покропівний. Фізика наноструктур. Київ, 2008. Додаткова: 1. Mark Fox. Optical properties of solids / Oxford University Press, 2001. – 281 p. 2. John H. Davies. The physics of low-dimensional semiconductors. An introduction. – Cambridge university press, 1998. – 425 p. 3. C. Klingshirn. Semiconductor optics. Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2007.

Методи викладання: лекції, щотижневий контроль попереднього матеріалу шляхом відповідей на конкретну кількість питань, модульна контрольна робота.

Семестрове оцінювання: 1. Модульна контрольна робота 1: 20 балів 2. Модульна контрольна робота 2: 20 балів Підсумкове оцінювання у формі заліку: - 60 балів. Умови допуску до підсумкового заліку: Студент не допускається до екзамену, якщо під час семестру набрав менше ніж 20 балів.

Українська