Інфопакет

Основи сучасної мікроскопії

ОК 34

Обов’язкова дисципліна для ОП

Перший

2021/2022

1 Семестр

3

- Вміти знаходити обґрунтовані рішення при складанні структурної, функціональної та принципової схем засобів інформаційно- вимірювальної техніки - Вміти організувати процедуру вимірювання, калібрування, випробувань при роботі в групі або окремо - Мати базові навички проведення теоретичних та/або експериментальних наукових досліджень в галузі оптики, лазерної фізики та оптоелектроніки, що виконуються індивідуально (автономно) та/або у складі наукової групи.

Очна форма

1. Знати визначальні ознаки нанорозмірних матеріалів, основи метрології наноструктур, основні електричні та оптичні явища, статистику електронів та діро та кінетичні явища в наноструктурах, загальні положення теорії твердого тіла. 2. Вміти - вимірювати оптичні та електрофізичні параметри і характеристики матеріалів фотоніки, аналізувати роботу сучасних мікроскопів. 3. Володіти елементарними навичками аналізу роботи сучасних мікроскопів.

Навчальна дисципліна «Основи сучасної мікроскопії» присвячена вивченню принципів роботи атомно-силового мікроскопу, фізики процесів, покладених в основу тунельного та конфокального мікроскопів. Розглянуто будову і основні характеристики атомно-силового, тунельного та флуоресцентного конфокального мікроскопів. Програма навчальної дисципліни складається з двох змістових модулів: У межах першого змістовного модуля на лекціях розглядаються питання: вступ до нанотехнологій; енергетичний спектр носіїв електронів в низькорозмірних системах; принцип роботи атомно-силового мікроскопу; транспортні явища в низькорозмірних структурах. У межах другого змістовного модуля на лекціях розглядаються питання: фізичні основи роботи тунельного мікроскопу; методи діагностики та аналізу наносистем за допомогою тунельної та конфокальної флуоресцентної мікроскопії; сучасні напрямки діагностики наноструктур.

Основна: 1. John H. Davies. The physics of low-dimensional semiconductors. An introduction. – Cambridge university press, 1998. – 425 p. 2. C. Klingshirn. Semiconductor optics. Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2007.

Методи викладання і навчання: лекції, щотижневий контроль попереднього матеріалу шляхом відповідей на конкретну кількість питань.

Семестрове оцінювання: 1. Модульна контрольна робота 1: 20 балів 2. Модульна контрольна робота 2: 20 балів Підсумкове оцінювання у формі заліку: - 60 балів.

Українська