Оптика рентгенівського та УФ діапазонів

Освітня програма: Оптика, лазерна фізика

Структурний підрозділ: Фізичний факультет

Назва дисципліни
Оптика рентгенівського та УФ діапазонів
Код дисципліни
ОК10
Тип модуля
Обов’язкова дисципліна для ОП
Цикл вищої освіти
Другий
Рік навчання
2018/2019
Семестр / Триместр
1 Семестр
Кількість кредитів ЕСТS
3
Результати навчання
Знати - Фізичні основи рентгенівського та ультрафіолетового випромінювання Принципи роботи основних типів приладів ультрафіолетового та рентгенівського діапазону Вміти - Застосувати набуті знання для діагностики матеріалів випромінюванням ультрафіолетового та рентгенівського діапазону Використати набуті навички на виробничих підприємствах та в лабораторіях науково-дослідних і навчальних установ.
Форма навчання
Попередні умови та додаткові вимоги
1. Знати основи оптики, основні поняття радіоелектроніки. 2. Вміти - вимірювати електрофізичні параметри напівпровідникових структур, аналізувати роботу електронних схем. 3. Володіти елементарними навичками вибору компонент електронних схем прецизійних пристроїв і приладів оптотехніки.
Зміст навчальної дисципліни
“Оптика ультрафіолетового та рентгенівського діапазону” включає вивчення розділів: визначальні фізичні ознаки напівпровідників, основи зонної теорії напівпровідників, статистика електронів і дірок у напівпровідниках, оптичні властивості напівпровідників та елементи кінетичної теорії явищ переносу.
Рекомендована та необхідна література
1. MacDonald, C. An Introduction to X-Ray Physics, Optics, and Applications, Princeton University Press, 2017, 368 p. 2. Attwood, D., Sakdinawat A. X-Rays and Extreme Ultraviolet Radiation: Principles and Applications, Cambridge University Press, 2017, 652 p. 3. Samson, J.A, Ederer D.L. Vacuum Ultraviolet Spectroscopy I, Academic Press, 2000, 307 p. 4. Dubinski, M.A., Misra P. Ultraviolet Spectroscopy and UV Lasers, Marcel Dekker, 2002, 564 p. 5. Claudia S. Schnohr, Mark C. Ridgway (Eds.). X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors. Springer, 2015. Додаткова: 1. John Evans. X-Ray Absorption Spectroscopy for the Chemical and Materials Sciences. Wiley, 2018. 2. Grant Bunker. Introduction to XAFS: A Practical Guide to X-ray Absorption Fine Structure Spectroscopy. Cambridge University Press, 2010.
Заплановані освітні заходи та методи викладання
Щотижневий контроль попереднього матеріалу, модульна контрольна робота
Методи та критерії оцінювання
Контроль здійснюється за модульно-рейтинговою системою, яка складається із 2 змістових модулів. Система оцінювання знань включає поточний, модульний та семестровий контроль знань. Результати навчальної діяльності студентів оцінюються за 100-бальною шкалою. Форми поточного контролю: оцінювання контрольних робіт, звітів з лабораторних робіт, реферату, усних відповідей під час лекції, письмових та усних самостійних завдань. Модульний контроль: 2 модульні контрольні роботи, за які студент може отримати максимально 40 балів (по 20 балів за кожну роботу). Підсумковий семестровий контроль проводиться у формі заліку, під час якого студент може отримати максимально 40 балів.
Мова викладання
Українська

Викладачі

Ця дисципліна викладаеться наступними викладачами

Сергій Вікторович Кондратенко
Кафедра оптики
Фізичний факультет

Кафедри

Наступні кафедри задіяні у викладанні наведеної дисципліни

Кафедра оптики
Фізичний факультет