Інфопакет

Методи та засоби метрологічного забезпечення нанотехнологій

ОК10

Обов’язкова дисципліна для ОП

Другий

2022/2023

1 Семестр

3

- Знати і розуміти сучасні методи наукових досліджень, організації і планування експерименту і комп’ютерних методів досліджень та опрацювання результатів вимірювань - Володіти сучасними методами і методиками проектування і дослідження, а також аналізу і обробки отриманих результатів - Вільно проєктувати та обговорювати наукові результати державною мовою та англійською або однією із мов краї ЄС в усній і письмовій формах, а також вести наукову дискусію - Розуміти основи патентознавства та мати навички захисту інтелектуальної власності - Застосовувати сучасні методи теоретичних і експериментальних досліджень з оцінювання точності отриманих результатів вимірювань, вміти формулювати обґрунтовані висновки.

Очна форма

1. Знати основи квантової теорії твердого тіла і спектроскопії поверхні конденсованих середовищ, основні поняття теорії симетрії кристалів, методи розрахунку електронної структури твердого тіла на основі блохівських функцій та енергетичних спектрів густини станів електронів в наноструктурах. 2. Вміти аналізувати результати вимірювань спектрів дійсної та уявної частин діелектричної проникності, фотолюмінесценціі і фотопровідності наногетероструктур, еліпсометричних параметрів поверхневих шарів напівпровідникових та металевих тонких плівок і покриттів, кутові залежності коефіцієнта відбивання поляризованого світла при плазмовому збудженні гетероструктур. 3. Володіти елементарними навичками вибору оптичних засобів діагностики оптоелектронних матеріалів і елементів для створення вузлів прецизійних пристроїв і інструментів оптотехніки.

“ Методи і засоби метрологічного забезпечення нанотехнологій” включає вивчення розділів: загальна характеристика матеріалів для виготовлення наноструктурованих елементів оптоелектронних систем та методи їх аналітичного контролю, поверхня як атрибут інтерфейсу, атомно-електронна будова поверхневих шарів матеріалів з різним типом електропровідності, методи аналізу атомної і електронної структури осаджених шарів і сформованих тонких плівок, графенового шару з його плазмонним відгуком для створення сенсорів при їх використанні в оптико-електронних приладах.

Основна: 1. Л.В. Поперенко, В.С. Стащук. Основи фізики матеріалів оптотехніки. ВПЦ «Київський університет», 2011, 686 с. 2. Л.В. Поперенко, В.Г. Кравець. Наноматеріали: оптичні, магнітооптичні , магніторезистивні і електронні властивості. ВПЦ «Київський університет», 2013, 110 с.

Методи викладання: лекції та самостійна робота, щотижневий контроль попереднього матеріалу шляхом відповідей на конкретну кількість питань, модульна контрольна робота.

Cеместрове оцінювання: 1. Модульна контрольна робота 1: 20 балів; 2. Модульна контрольна робота 2: 20 балів. Підсумкове оцінювання у формі заліку: - 60 балів.

Українська