Інфопакет

Фізика низькорозмірних структур

ОК 18

Обов’язкова дисципліна для ОП

Другий

2022/2023

1 Семестр

3

Знати явища та процеси в низькорозмірних структурах, зумовлених поверхневими та розмірними ефектами. Знати основні методи отримання наноструктур та властивості деяких наносистем.

Очна форма

Знати основні методи отримання поверхневих наноструктур; енергетичний спектр електронних станів у квантових нитках і квантових точках; особливості морфології та структури пористих шарів; властивості наноструктурованого поруватого кремнію, що є відмінними від властивостей об’ємного матеріалу; оптичні та люмінесцентні властивості поруватого кремнію; області застосування наноструктурованого поруватого кремнію. Вміти орієнтуватись у шляхах керування параметрами наноматеріалів при їх формуванні; визначати основні структурні характеристики поруватого кремнію; кваліфіковано пояснювати фізичні причини зміни властивостей наноматеріалів при переході від монокристалічної до наноструктурованої форми. Володіти уявленнями про фізичні явища і процеси в низькорозмірних структурах, зумовлені розмірним ефектом та великою питомою площею поверхні.

В рамках курсу «Фізика низькорозмірних структур» розглядаються сучасні підходи експериментального дослідження і теоретичного опису атомної і електронної структури та спектру властивостей низькорозмірних структур. Мета вивчення дисципліни – ознайомити студентів з сучасними досягненнями в області фізики наноструктур, а саме в дослідженні структури та властивостей низькорозмірних структур. Методи викладання: лекції. Методи оцінювання: опитування в процесі лекції, контрольні роботи після основних розділів спецкурсу, залік. Підсумкова оцінка виставляється на основі проміжних оцінок (60%) та заліку (40%).

1. Кондир А. І. Наноматеріалознавство і нанотехнології. Навчальний посібник. Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2016. 452 с. 2. Наноматеріали та нанотехнології. Методи аналізу та контролю. Посібник. В. Малишев, Н. Кущевска, О. Папроцька, О. Терещенко - Університет "Україна", 2018, - 81с. 3. А.П. Шпак, Ю.А. Куницький, С.Ю. Смик. Екситоніка низкорозмірних ситем. – Київ, 2004. – 128 с.

Лекції – 30 годин Самостійна робота – 60 годин

Семестрове оцінювання: 1. Модульна контрольна робота 1 за темами 1-8: РН 1.1 – 25 балів / 15 балів 2. Модульна контрольна робота 2 за темами 9-14: РН 1.2 – 25 балів / 15 балів 3. Опитування в процесі лекцій: РН 1.1, 1.2 – 10 балів / 6 балів Підсумкове оцінювання у формі заліку. Студент не допускається до заліку, якщо під час семестру набрав менше ніж 36 балів.

Українська