Фізичні процеси на поверхні твердих тіл
Освітня програма: Прикладна фізика та наноматеріали
Структурний підрозділ: Факультет радіофізики, електроніки та комп’ютерних систем
Назва дисципліни
Фізичні процеси на поверхні твердих тіл
Код дисципліни
ВБ 3.7
Тип модуля
Вибіркова дисципліна для ОП
Цикл вищої освіти
Другий
Рік навчання
2023/2024
Семестр / Триместр
3 Семестр
Кількість кредитів ЕСТS
5
Результати навчання
Результатом прослуховування курсу є поглиблене вивчення найсучасніших підходів до опису основ роботи транзисторів метал-діелектрик-напівпровідник з приповерхневим каналом провідності нанодовжини та пониженої вимірності.
Форма навчання
Очна форма
Попередні умови та додаткові вимоги
Навчальна дисципліна «Фізичні процеси на поверхні твердих тіл» має зв'язок з навчальними дисциплінами «Квантова та напівпровідникова електроніка», «Фізика поверхні», «Фізика конденсованого середовища»
Зміст навчальної дисципліни
В курсі з єдиної точки зору розглядаються питання фізики приповерхневих процесів провідності, які лежать в основі роботи найпоширеніших пристроїв сучасної напівпровідникової електроніки – транзисторів метал-діелектрик-напівпровідник, де канал провідності реалізується в тонкій приповерхневій області.
Рекомендована та необхідна література
1. Ю.О. Кругляк, М.В. Стріха. Фізика нанотранзисторів: устрій, метрика та керування // Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. -2018. – т. 15, №.4. – С.18-40.
2. Ю.О. Кругляк, М.В. Стріха. Фізика нанотранзисторів: теорія MOSFET в традиційному викладі, основи моделі віртуального витоку й наближення виснаження // Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. - 2019. – т. 16, №.1. – С.7 -40.
3. Ю.О. Кругляк, М.В. Стріха. Фізика нанотранзисторів: поверхневий потенціал, напруга на затворі та рухливий електричний заряд у масивній структурі MOS та в тонкій SOI // Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. - 2019. – т. 16, №.2. – С.5 -31.
4. Ю.О. Кругляк, М.В. Стріха. Фізика нанотранзисторів: 2D електростатика MOS і модель віртуального витоку // Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. - 2019. – т. 16, №.3. – С.19 -41.
Заплановані освітні заходи та методи викладання
Лекції, підсумкові контрольні роботи, самостійні завдання (реферати), підсумковий залік
Методи та критерії оцінювання
Оцінюються контрольні роботи, самостійні роботи (реферати), відповіді на заліку. Вклад результатів навчання у підсумкову оцінку, за умови їх опанування на належному рівні і успішної здачі всіх робіт наступний: знання до 50 %; вміння – до 35%; комунікація – до 5%; автономність та відповідальність – до 10%.
Мова викладання
Українська
Викладачі
Ця дисципліна викладаеться наступними викладачами
Максим
Віталійович
Стріха
Кафедра фізичної електроніки
Факультет радіофізики, електроніки та комп’ютерних систем
Факультет радіофізики, електроніки та комп’ютерних систем
Кафедри
Наступні кафедри задіяні у викладанні наведеної дисципліни
Кафедра фізичної електроніки
Факультет радіофізики, електроніки та комп’ютерних систем