Інфопакет

Дифракційні методи аналізу

ВКБ.6.04

Вибіркова дисципліна для ОП

Перший

2023/2024

6 Семестр

4

Знати принципи і процедури фізичних, хімічних, фізико-хімічних методів дослідження, типові обладнання та прилади. Спроможність використовувати набуті знання та вміння для розрахунків, відображення та моделювання хімічних систем та процесів, обробки експериментальних даних. Використовувати свої знання, розуміння, компетенції та базові інженерно-технологічні навички на практиці для вирішення задач та проблем відомої природи. Інтерпретувати експериментально отримані дані та співвідносити їх з відповідними теоріями в хімії.

Очна форма

Даний курс базується на використані знань, отриманих при вивченні курсів кристалохімії (структура та симетрія кристалів, точкові та просторові елементи симетрії), квантової хімії (будова атомів, умови переходу електронів між енергетичними рівнями атому), фізики (принципи генерації електромагнітного випромінювання, хвильові властивості частинок, гіпотеза де Бройля, дифракція хвиль), математики (елементи аналітичної геометрії та векторної алгебри).

Курс “Дифракційні методи аналізу» побудований таким чином, щоб дати студентам уявлення про природу та методи генерації рентгенівського випромінювання, фізичні основи виникнення неперервного та характеристичного спектрів, особливості взаємодії рентгенівського випромінювання з матеріалами, основні положення теорії розсіювання рентгенівських променів атомами та її застосування в структурних дослідженнях. Для засвоєння зазначеного матеріалу передбачається проведення лабораторних робіт, що дають можливість освоїти методику обробки та інтерпретації дифракційних зображень, визначення структурних параметрів невідомої речовини з даних рентгенівської дифракції.

1. Казіміров В.П., Русанов Е.Б. Рентгенографія кристалічних матеріалів: навч. посібник – К.:ВПЦ “Київський університет”. – 2016. – 287 с. 2. Казіміров В.П., Качур О.В. Рентгенографія полікристалів: навч. посібник – К.: ВПЦ “Київський університет”.– 1994. 3. Cullity B.D., Stock S.R. Elements of X-Ray Diffraction. – Pearson. – 2017. – 654 p. 4. Zolotoyabko E. Basic Concepts of X-Ray Diffraction. – Wiley-VCH. – 2014. – 311 p. 5. Lee M. X-ray diffraction for materials research. From Fundamentals to Applications. – AppleAcademic Press. – 2016. – 297 p. 6. П. І. Лобода, О. П. Карасевська, І. Ю. Троснікова Рентгеноструктурний аналіз матеріалів у дисперсному стані : навч. посіб. - Київ : Центр учбової літератури, 2017. - 139 с.

Лекції, лабораторні роботи

Максимальна/мінімальна кількість балів, які можуть бути отримані студентом: 60 балів /36 балів, а саме: 1. Модульна контрольна робота №1: 15/8 балів. 1. Модульна контрольна робота №2: 15/8 балів. 2. Лабораторні роботи № 1–5: 25/15 балів. 4. Оцінювання самостійної роботи: 5/3 балів. Підсумкове оцінювання (у формі екзамену): Максимальна/мінімальна кількість балів, які можуть бути отримані студентом: 40 балів /24 бали.

Українська