Інфопакет

Оптика ультрафіолетового і рентгенівського діапазону

ВК 3.2.2

Вибіркова дисципліна для ОП

Перший

2023/2024

4 Семестр

3

- Знати та розуміти сучасні теоретичні та експериментальні методи досліджень з оцінюванням точності отриманих результатів - Вміти організувати процедуру вимірювання, калібрування, випробувань при роботі в групі або окремо - Вільно володіти термінологічною базою спеціальності, розуміти науково-технічну документацію державної метрологічної системи України, міжнародні та міждержавні рекомендації та настанови за спеціальністю - Знати і розуміти фізичні основи оптичних явищ та процесів: аналізувати, тлумачити, пояснювати і класифікувати оптичні явища, а також основні фізичні процеси, які відбуваються в них

Очна форма

Знати: основи математичного аналізу, мати базові знання з оптики Вміти: працювати з англомовними джерелами

Курс знайомить здобувачів освіти з теорією і практикою оптичних досліджень у ультрафіолетовому і рентгенівському діапазоні. Розглядаються загальні питання взаємодії випромінювання з речовиною, фізичні основи взаємодії електромагнітного випромінювання з речовиною (відбивання, заломлення, розсіювання, дифракція), види джерел випромінювання у цій спектральній області, а також сучасні застосування електромагнітного випромінювання ультрафіолетового і рентгенівського діапазону у метрології

Основна: (Базова) MacDonald, C. An Introduction to X-Ray Physics, Optics, and Applications, Princeton University Press, 2017, 368 p. Attwood, D., Sakdinawat A. X-Rays and Extreme Ultraviolet Radiation: Principles and Applications, Cambridge University Press, 2017, 652 p. Samson, J.A, Ederer D.L. Vacuum Ultraviolet Spectroscopy I, Academic Press, 2000, 307 p. Dubinski, M.A., Misra P. Ultraviolet Spectroscopy and UV Lasers, Marcel Dekker, 2002, 564 p. Додаткова: Knauer, J. P. Advanced x-ray/EUV radiation sources and applications, SPIE, 1990, 289 p. Мудрий С.І., Кулик Ю.О., Якимович А.С. «Рентгеноструктурний аналіз у матеріалознавстві», ЛНУ імені Івана Франка, 2017, 226 стр. Adams B.W. “ Nonlinear Optics, Quantum Optics, and Ultrafast Phenomena with X-Rays: Physics with X-Ray Free-Electron Lasers” Springer, 2003, 330 p

Завданнями курсу є надати студенту можливість вміти пояснити основні принципи УФ і рентенівської спектроскопії, пояснити принципи роботи та знати схеми приладів УФ і рентенівської спектроскопії, інтерпретувати УФ- і рентгенівські спекти (ФК1, ФК5) Форми та методи і технології викладання і навчання - лекції, квізи, письмова робота, МКР

Форми оцінювання студентів: - семестрове оцінювання: 1. Поточні квізи на парах 20 балів 2. Модульні контрольні роботи 2 х 10 = 20 балів 3. Письмова робота «Тести своїми руками» 20 балів - підсумкове оцінювання (у формі екзамену/комплексного екзамену, диференційованого заліку): Проводиться у формі іспиту. 40 балів. - умови допуску до підсумкового екзамену: Студент отримав не менше 36 балів за семестр

Українська