Інфопакет

Матеріали електроніки

ВК 3.2.1

Вибіркова дисципліна для ОП

Перший

2022/2023

4 Семестр

4

- Знати та вміти застосовувати сучасні інформаційні технології для вирішення задач в сфері метрології та інформаційно-вимірювальної техніки - Знати та розуміти предметну область, її історію та місце в сталому розвитку техніки і технологій, у загальній системі знань про природу і суспільство - Вміти враховувати соціальні, екологічні, етичні, економічні аспекти, вимоги охорони праці, виробничої санітарії і пожежної безпеки під час формування технічних рішень - Знати і розуміти фізичні основи оптичних явищ та процесів: аналізувати, тлумачити, пояснювати і класифікувати оптичні явища, а також основні фізичні процеси, які відбуваються в них - Розуміти зв’язок оптики, лазерної фізики та метрології з іншими природничими та інженерними науками, бути обізнаним з окремими основними поняттями прикладної фізики, матеріалознавства, інженерії, а також з окремими об’єктами та природними явищами, що є предметом дослідження інших наук.

Очна форма

1. Знати основи квантової теорії твердого тіла і оптичної і електронної спектроскопії поверхні конденсованих середовищ, основні поняття теорії симетрії кристалів і 2D-структур, методи розрахунку на основі блохівських функцій електронної структури твердого тіла. 2. Вміти аналізувати результати вимірювань спектрів фотолюмінесценціі і фотопровідності гетероструктур та нанооб»єктів, еліпсометричних параметрів поверхневих шарів напівпровідникових та металевих тонких плівок і покриттів, кутові залежності коефіцієнта відбивання поляризованого світла при плазмовому збудженні гетероструктур. 3. Володіти елементарними навичками вибору оптоелектронних матеріалів і елементів для створення вузлів прецизійних пристроїв і інструментів оптотехніки.

“Матеріали електроніки” включає вивчення розділів: загальна характеристика матеріалів для виготовлення наноструктурованих елементів оптоелектронних систем та методи їх аналітичного контролю, поверхня як атрибут інтерфейсу, атомно-електронна будова поверхневих шарів матеріалів з різним типом електропровідності, методи аналізу атомної і електронної структури осаджених шарів і сформованих тонких плівок, графенового шару з його плазмонним відгуком для створення сенсорів при їх використанні в оптико-електронних приладах.

Основна:Л.В. Поперенко, В.С. Стащук. Основи фізики матеріалів оптотехніки. – Київ: ВПЦ «Київський університет», 2011 - 686. Л.В. Поперенко, В.Г. Кравець. Наноматеріали: оптичні, магнітооптичні, магніторезистивні та електронні властивості. – К.: ВПЦ «Київський університет», 2011.- 219 с. О.А. Бурий, С.Б. Убізський. Моделювання та оптимізація твердотільних мікрочипових лазерів.. Львів. Видавнцтво Львівська політехніка. 2013. 200 с. Державна повірочна схема для засобів вимірювання електрорушійної сили та сталої напруги ДЕТУ 08-03-07. Додаткова: 1. В.П. Гаращук. Основи фізики лазерів.: навчальний посібник. Київ. Університетське вид-во Пульсари, 2012. – 344 с. 2. А.С. Андрущак, З.Ю. Готра, О.С. Кушнір. Прикладна електродинаміка інформаційних систем. Львів. Видавнцтво Львівська політехніка. 2012 – 304 с. 3. Оптика металевих структур: монографія /Л.В. Поперенко, Ю.В, Кудрявцев, В.С. Стащук, Янг Пак Лі.- К.: ВПЦ «Київський університет», 2013.- 531 с.

Методи викладання: лекції, практичні, самостійна робота, щотижневий контроль попереднього матеріалу шляхом відповідей на конкретну кількість питань, модульна контрольна робота.

Семестрове оцінювання: 1. Модульна контрольна робота 1: 20 балів; 2. Модульна контрольна робота 2: 20 балів. Підсумкове оцінювання у формі заліку: - 60 балів.

Українська