Основи фізики наносистем

Освітня програма: Фізика

Структурний підрозділ: Фізичний факультет

Назва дисципліни
Основи фізики наносистем
Код дисципліни
ВК 3
Тип модуля
Вибіркова дисципліна для ОП
Цикл вищої освіти
Перший
Рік навчання
2022/2023
Семестр / Триместр
5 Семестр
Кількість кредитів ЕСТS
3
Результати навчання
Знати основні актуальні проблеми сучасної фізики. Мати базові навички проведення теоретичних та/або експериментальних наукових досліджень з окремих спеціальних розділів фізики, що виконуються індивідуально (автономно) та/або у складі наукової групи. Вміти упорядковувати, тлумачити та узагальнювати одержані наукові та практичні результати, робити висновки. Розуміти зв’язок фізики з іншими природничими та інженерними науками, бути обізнаним з окремими (відповідно до спеціалізації) основними поняттями прикладної фізики, матеріалознавства, інженерії, хімії, біології тощо, а також з окремими об’єктами (технологічними процесами) та природними явищами, що є предметом дослідження інших наук і, водночас, можуть бути предметами фізичних досліджень.
Форма навчання
Очна форма
Попередні умови та додаткові вимоги
Знати загальну фізику (розділи «Електрика та магнетизм», «Оптика», «Молекулярна фізика»), принципи фокусування світлових та електронних променів. Вміти застосовувати знання з курсів математичного аналізу, диференційних та інтегральних рівнянь, механіки для опису руху частинок та побудови дифракційної та інтерференційної картин. Мати елементарні навички проведення експериментів та обробки результатів експериментальних досліджень.
Зміст навчальної дисципліни
В рамках курсу «Основи фізики наносистем» розглядаються основні особливості наносистем порівняно з об’ємними матеріалами, методи їхньої характеризації та створенняя, їх основні фізичні властивості а також практичне застосування наносистем. Метою вивчення дисципліни є отримання глибоких та систематичних знань щодо фізичних властивостей наносистем, можливості їхнього формування за допомогою епітаксії, осадження, оксидування, диспергування, літографії. Навчальна задача курсу також полягає у засвоєнні принципів роботи таких методів визначення параметрів подібних систем як електронна мікроскопія, скануюча зондова мікроскопія, рентгенівська дифракція, різноманітні варіанти спектроскопії; крім того передбачено, набуття навичок визначення параметрів структури за результатами рентгенівської дифракції та визначення впливу нанорозмірності на параметри структури та ряд фізичних властивостей
Рекомендована та необхідна література
1. Семенько М.П. „Структурна кристалографія” (вибрані лекції по кристалографії) для студентів фізичного факультету.// Київ. – 2019 р. – 63 с. 2. Захаренко М.І., Семенько М.П., „Методи структурного аналізу” (методичні вказівки до лабораторних робіт з курсу „Дифракційні методи дослідження конденсованого стану” Київ.- 2012.
Заплановані освітні заходи та методи викладання
Лекції - 14 годин, лабораторні роботи - 30 годин, самостійна робота – 46 годин,, консультації.
Методи та критерії оцінювання
Семестрове оцінювання: опитування в процесі лекції (до 3 балів під час кожного з двох змістових модулів); дві модульні контрольні роботи (до 7 балів кожна), виконання та здача лабораторних робіт (до 20 балів під час кожного з двох змістових модулів). Підсумкове оцінювання у формі іспиту, максимальна оцінка 40 балів. Студент не допускається до іспиту, якщо під час семестру набрав менше 36 балів. Оцінка за іспит не може бути меншою 24 балів для отримання загальної позитивної оцінки за курс.
Мова викладання
Українська